很多客户买了贴片电容回去测试，发现
村田贴片电容的电容偏低。下面我们来分析一下为什么贴片电容的电容偏低？造成芯片电容低的因素有哪些？一起来分析一下。
1、测试环境不同所获得结果也不同
较小的电容要考虑测试条件对贴片电容电容值的影响。对于不同电容值的贴片电容，测量电容值需要不同的测试条件，主要是测试电压和测试频率的设置。
贴片电容不同电容值的测试条件为：
电容交流电压频率
容量＞10uF 1.0±0.2Vrms 120Hz
1000pF＜容量≤10uF 1.0±0.2Vrms 1KHz
容量≤1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz
2、测量仪器的差异对测量结果的影响
根据多年的经验的工程师解释：实际施压不能达到实验条件所要求的的电压时。由于仪器内部阻抗的分压，使电容器两端施加的测试电压与实际显示的设定电压不一致。为了尽量减少测量结果的误差，建议对仪器进行调整，尽量将仪器的设定电压调整到电容两端实际测得的电压，使待测电容上的实际电压输出一致.
3、影响贴片电容电容值低测量的因素
（1）测试仪器内部阻抗的影响
由于各仪器之间的内部阻抗不同，仪器总电压致使施加在测试电容器上的实际电压更小。在实际测量中，需要讲万用表等工具测试两端扥电压，以确定施加在贴片电容两端的输出电压。
（2）不一样的阻抗的测试仪器输出电压对比如下：
仪器内阻100Ω
1VX（100Ω/（100Ω+16Ω））=0.86伏特
10uF测试电容两端电压：
1VX（16Ω/（100Ω+16Ω））=0.14V
平均电容读数：6-7uF
仪器电阻1.5Ω：
1VX（1.5Ω/（1.5Ω+16Ω））=0.086V
10uF测试电容两端电压：
1VX（16Ω（1.5Ω+16Ω））=0.914V
平均电容值读数：9-10uF
4、测量环境不同所得结果也不同：如，40°C 的测试容量将比 25°C 的测试容量低近 20％。可以看出，当外界环境温度比较高时，电容值的测试值会显得偏低。一般将其放置在 20°C 的环境中一段时间使材料处于稳定的测试环境中进行电容测试。
5、贴片陶瓷电容产品材料老化现象
材料老化是指电容器的电容值随着时间的推移而减小的现象，这种现象发生在所有使用铁电材料作为介电材料的材料产品中。自然无法避免的现象。原因是内部晶体结构随着温度和时间的变化而变化，导致电容降低，这是一种可逆现象。当老化材料应用一段时间高于材料的居里温度时（电容恢复的推荐条件为150°C/1小时），当环境温度恢复到恒温时室内24小时温度25℃分子结构才会恢复到笨的状态。材料将因此开始另一个老化循环，芯片电容器的电容将恢复到正常规格范围内。
用上面的方法验证，把被测试电容侵入到锡炉或回流焊后，重新测试电容值将恢复到正常范围。
方案推荐：
村田贴片电容 
