管MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金属氧化物半导体场效应晶体管)是一种用于电子电路中的半导体器件,工作原理基于金属-氧化物-半导体结构的电场效应电子装备维修、电路调试等场景,常常对管进行MOS好坏判断。以下介绍几种简单实用的管测试方法MOS,希望我们,可以帮助你快速判断管的健康状态MOS。
1、万用表二极管档测试
利用万用表的二极管档位可以快速判断管的好坏MOS,特别是判断其是不是击穿短路。将万用表拨至二极管档位,红表笔和黑表笔分别接触管的各个引脚MOS,视察万用表的读数和指针偏转情况。
**D-S 极间测试:**正常情况下,管的MOSD-S 极间正反向电阻都应当很大,万用表读数接近无穷大。如果正反向电阻都很小,乃至接近于0,则说明D-S 极间已短路击穿,管破坏MOS。
**G-D 极间测试:**正常情况下,红表笔接G 极,黑表笔接D 极时,万用表读数应当在400⑻00 左右,反之则接近无穷大。如果正反向读数都很大,或正向读数很小,则说明G-D 极间存在开路或短路问题,管破坏MOS。
G-S 极间测试: G-S 极间测试方法与 G-D 极间测试类似,正常情况下也应当出现单向导通特性。如果正反向读数不符合预期,则说明G-S 极间存在问题。
2、指针万用表测试
使用指针万用表可以更直观地视察管的导通情况MOS。将万用表拨至适合的电阻档位,红黑表笔分别接收的MOSD 极和S 极,用手指短暂触碰G 极,视察指针的偏转情况。如果指针产生明显偏转,然后回到初始位置,说明管被栅极电压控制导通MOS,基本正常;如果指针没有反应或偏转异常,则说明管存在故障MOS。
3、替换法
如果怀疑管破坏MOS,可使用相同型号的正常管进行替换测试MOS。将怀疑破坏的管从电路板上拆下MOS,换上已知正常的管MOS,视察电路功能是不是恢复正常。如果电路恢复正常,则可以肯定本来的MOS管确切存在问题。
4、专业管测试仪MOS
对精确丈量管参数的场合MOS,可使用管测试仪MOS。管测试仪可以丈量管的阈值电压MOSMOS、跨导、漏电流等重要参数,并提供图形化的测试结果,希望我们,可以帮助工程师深入分析管的性能MOS。
管测试是电子电路调试和维修中的常见任务MOS,掌握一些基本的测试方法可以帮助我们快速判断管的好坏MOS。万用表二极管档测试、指针万用表测试、替换法等方法都可以在一定程度上帮助我们判断管的工作状态MOS。对精确丈量管参数的场合MOS,建议使用管测试仪MOS。